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HP 4278A電容計(jì)二手品牌: | 惠普 | HPHP4278A電容計(jì)Agilent4278A測量速度:6.5ms/10ms/21ms測量參數(shù):C-D,Q,ESR,G C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
更新時(shí)間:2018-12-25
品牌: | 惠普 | HPHP4278A電容計(jì)Agilent4278A測量速度:6.5ms/10ms/21ms測量參數(shù):C-D,Q,ESR,G C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 0.05%,0.0002(1MHz,21ms)Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測試儀是一臺高速高可靠的精密測試儀器,用于生產(chǎn)線和質(zhì)量控制中作電容器的進(jìn)出廠檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電容器的測試效率(可測量以200μF,這個(gè)電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)據(jù)值)。技術(shù)指標(biāo):測量參數(shù)C-D,Q,ESR,G測試信號頻率:1kHz和1MHz±0.02%信號電平:0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進(jìn)測量時(shí)間:6.5ms/10ms/21ms(典型值)測量范圍測量參數(shù)1kHz1MHz正常模式1MHz高精度C0.01pF~200.000μF0.00001pF~1280.00pF 0.00004pF~2663.00pFD0.00001~9.999990.00001pF~9.99999 0.00001pF~0.99999 電纜長度補(bǔ)償0,1或2m比較器:對電容的10倉室分類,對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試存儲(chǔ)卡插槽外部存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)卡插槽用于對控制設(shè)置和比較極限進(jìn)行分類和調(diào)用(存儲(chǔ)卡可任選,參見下面的選件004)。 技術(shù)指標(biāo):測量參數(shù)C-D,Q,ESR,G測試信號頻率:1kHz和1MHz±0.02%信號電平:0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進(jìn)測量時(shí)間:6.5ms/10ms/21ms(典型值)測量范圍測量參數(shù)1kHz1MHz正常模式1MHz高精度 電纜長度補(bǔ)償0,1或2m比較器:對電容的10倉室分類,對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試存儲(chǔ)卡插槽外部存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)卡插槽用于對控制設(shè)置和比較極限進(jìn)行分類和調(diào)用(存儲(chǔ)卡可任選,參見下面的選件004)。 一般技術(shù)指標(biāo):工作溫度/濕度 5°~45℃,在40℃時(shí)相對濕度為95% •4278A 1kHz/1MHz電容測試儀 Opt W30 擴(kuò)大的維修服務(wù) Opt 001 只1kHz測試頻率 Opt 002 只1MHz測試頻率 Opt 003 1%的頻率漂移;電源 100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V Amax尺寸 約426mm(寬)*177mm(高)*498mm(長)(16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)重量: 約15kg(33磅,標(biāo)準(zhǔn))
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